Det amerikanske energiministerium (DOE) har for nylig udgivet sin tredje pålidelighedsrapport om LED-drivere baseret på langsigtet accelereret levetidstest. Forskere fra det amerikanske energiministeriums Solid State Lighting (SSL) mener, at de seneste resultater bekræfter den fremragende ydeevne af Accelerated Pressure Test (AST)-metoden under forskellige barske forhold. Derudover kan testresultaterne og de målte fejlfaktorer informere chaufførudviklere om relevante strategier for yderligere at forbedre pålideligheden.

Som bekendt kan LED-drivere f.eksLED-komponenter selv, er afgørende for optimal lyskvalitet. Et passende driverdesign kan eliminere flimmer og give ensartet belysning. Og driveren er også den mest sandsynlige komponent iLED lyseller belysningsarmaturer til funktionsfejl. Efter at have indset vigtigheden af ​​drivere, startede DOE et langsigtet førertestprojekt i 2017. Dette projekt involverer enkeltkanal- og flerkanalsdrivere, som kan bruges til fastgørelse af enheder såsom loftsriller.

Det amerikanske energiministerium har tidligere udgivet to rapporter om testprocessen og fremskridt, og nu er det den tredje testdatarapport, som dækker produkttestresultater, der kører under AST-forhold i 6000 til 7500 timer.

Faktisk har branchen ikke så meget tid til at prøvekørsler i normale driftsmiljøer i mange år. Tværtimod har det amerikanske energiministerium og dets entreprenør RTI International testet drevet i, hvad de kalder et 7575-miljø – både indendørs fugtighed og temperatur holdes konsekvent på 75 ° C. Denne test involverer to faser af førertest, uafhængig af kanalen. Enkelttrinsdesign koster mindre, men det mangler et separat kredsløb, der først konverterer AC til DC og derefter regulerer strømmen, hvilket er unikt for to-trins design.

Det amerikanske energiministerium rapporterede, at i test udført på 11 forskellige drev, blev alle drev drevet i et 7575-miljø i 1000 timer. Når drevet er placeret i et miljørum, er LED-belastningen forbundet til drevet placeret under udendørs miljøforhold, så AST-miljøet påvirker kun drevet. DOE associerede ikke driftstiden under AST-forhold med driftstiden under normale miljøer. Den første batch af enheder fejlede efter 1250 timers drift, selvom nogle enheder stadig er i drift. Efter test i 4800 timer fejlede 64 % af enhederne. Ikke desto mindre, i betragtning af det barske testmiljø, er disse resultater allerede meget gode.

Forskere har fundet ud af, at de fleste fejl opstår i det første trin af driveren, især i power factor correction (PFC) og elektromagnetisk interferens (EMI) undertrykkelseskredsløb. I begge trin af driveren har MOSFET'er også fejl. Ud over at specificere områder som PFC og MOSFET, der kan forbedre driverdesign, indikerer denne AST også, at fejl normalt kan forudsiges baseret på overvågning af førerens ydeevne. For eksempel kan overvågning af effektfaktor og overspændingsstrøm opdage tidlige fejl på forhånd. Stigningen i blinkingen indikerer også, at en funktionsfejl er ved at opstå.

I lang tid har DOE's SSL-program udført vigtig test og forskning på SSL-området, herunder ved Gateway