Det er rapporteret, at det amerikanske energiministerium (DOE) for nylig udgav den tredje LED-driverpålidelighedsrapport baseret på en langsigtet accelereret levetidstest.Forskere af Solid-state belysning (SSL) fra det amerikanske energiministerium mener, at de seneste resultater har bekræftet metoden med accelereret tryktest (AST), som har vist god ydeevne under forskellige barske forhold.Derudover kan testresultaterne og de målte fejlfaktorer informere chaufførudviklere om relevante strategier for yderligere at forbedre pålideligheden.

LED-drivere er som bekendt, ligesom LED-komponenter selv, afgørende for optimal lyskvalitet.Et passende driverdesign kan eliminere flimmer og give ensartet belysning.Og driveren er også den mest sandsynlige komponent i LED-lys eller belysningsarmaturer, der ikke fungerer korrekt.Efter at have indset vigtigheden af ​​drivere, startede DOE et langsigtet førertestprojekt i 2017. Dette projekt involverer enkeltkanal- og flerkanalsdrivere, som kan bruges til fastgørelse af enheder såsom loftsriller.

Det amerikanske energiministerium har tidligere udgivet to rapporter om testprocessen og fremskridt.Nu er det den tredje testdatarapport, som involverer produkttestresultaterne på 6000-7500 timers drift under AST-forhold.

Faktisk har branchen ikke så meget tid til at prøvekørsler i normale driftsmiljøer i mange år.Tværtimod har det amerikanske energiministerium og dets entreprenør RTI International testet aktuatoren i det, de kalder 7575-miljøet – indendørs luftfugtighed og temperatur holdes på 75 °C. Denne test involverer to faser af førertest, uafhængig af kanalen.Enkelttrinsdesign koster mindre, men det mangler et separat kredsløb, der først konverterer AC til DC og derefter regulerer strømmen, hvilket er unikt for to-trins design.

Det amerikanske energiministerium rapporterede, at i testen af ​​11 forskellige drev kørte alle drevene i 1000 timer i et 7575-miljø.Når drevet er placeret i et miljørum, er LED-belastningen forbundet til drevet placeret under udendørs miljøforhold, så AST-miljøet påvirker kun drevet.DOE associerede ikke driftstiden under AST-forhold med driftstiden under normale miljøer.Den første batch af enheder fejlede efter 1250 timers drift, selvom nogle enheder stadig er i drift.Efter test i 4800 timer fejlede 64 % af enhederne.Ikke desto mindre, i betragtning af det barske testmiljø, er disse resultater allerede meget gode.

Forskere har fundet ud af, at de fleste fejl opstår i det første trin af driveren, især i power factor correction (PFC) og elektromagnetisk interferens (EMI) undertrykkelseskredsløb.I begge trin af driveren har MOSFET'er også fejl.Ud over at specificere områder som PFC og MOSFET, der kan forbedre driverdesign, indikerer denne AST også, at fejl normalt kan forudsiges baseret på overvågning af førerens ydeevne.For eksempel kan overvågning af effektfaktor og overspændingsstrøm opdage tidlige fejl på forhånd.Stigningen i blinkingen indikerer også, at en funktionsfejl er ved at opstå.

I lang tid har DOE's SSL-program udført vigtig test og forskning inden for SSL-området, herunder produkttest af applikationsscenarier under Gateway-projektet og kommerciel produktydelsestest under Caliper-projektet.